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掃描電鏡SEM
掃描電鏡SEM簡介：FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 16:26:49 對比

掃描電鏡SEM 半導(dǎo)體測量
透射電鏡TEM
透射電鏡TEM 介紹：1. 配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的高通量、高分辨率的120kV透射電子顯...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 16:24:26 對比

透射電鏡TEM
聚焦離子束系統(tǒng)FIB
聚焦離子束系統(tǒng)FIB是將離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速，聚焦后作用于樣品表面，應(yīng)用于：產(chǎn)生二次電子信號取得電子像，此功能與SEM相似，用強電流離子束對表面原子...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 16:21:07 對比

離子束系統(tǒng)
光學(xué)輪廓儀
光學(xué)輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 16:11:11 對比

光學(xué)輪廓儀輪廓儀
探針式輪廓儀/臺階儀
探針式輪廓儀/臺階儀技術(shù)優(yōu)勢：1. 每次掃描數(shù)據(jù)點：最多可達(dá)120.000數(shù)據(jù)點2. 最大樣品厚度：50mm(2英寸)3. 最大晶圓尺寸：200mm(8英寸)4...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 16:07:23 對比

輪廓儀臺階儀表面測量
X射線衍射儀XRD
X射線衍射儀XRD 產(chǎn)品概述：智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域?？梢苑治龅牟牧习ǎ航饘俨牧?、無機(jī)材料、復(fù)合材料、...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:59:35 對比

X射線衍射儀XRD 射線衍射儀 X射線儀器分析儀
CT系統(tǒng)
Comet Yxlon FF35 CT X射線系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的多功能高分辨率CT系統(tǒng) ，用于研發(fā)和質(zhì)量保證領(lǐng)域。FF35 CT 符合 SEMI® 的嚴(yán)...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:47:24 對比

CT系統(tǒng)工業(yè)CT 質(zhì)量掃描
雙面拋光機(jī)
雙面拋光機(jī)分為雙面機(jī)械拋光和雙面化學(xué)拋光兩種，分別代表雙面拋光的粗加工和精加工。主要用于晶片的表面拋光，操作簡單，搭配不同的夾具，拋光墊，拋光液可以實現(xiàn)不同材料...
型號： TDP-1200/... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:44:37 對比

拋光機(jī)
探針臺
定制基于靈活模塊的 150 mm 探針臺FormFactor為150 mm探針臺引入了新的模塊化概念。這將使您更容易以令人難以置信的價格配置個性化探頭解決方案，...
型號： MPS150系列所在地：美國參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:42:28 對比

探針臺光電傳感 MPS150系列 Formfactor
X-Ray
它是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出。而對于樣品無法以外觀方式觀測的位置，利用其穿透不...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:38:14 對比

X-Ray X射線檢測 X射線實施成像
單面拋光機(jī)
單面拋光機(jī)是一款操作簡單，兼容性強，搭配不同盤配合相應(yīng)的液可實現(xiàn)多種半導(dǎo)體材料高精度拋光設(shè)備，拋光盤可定制，根據(jù)量產(chǎn)要求多種規(guī)格可選。
型號： TSP-610 /... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:30:09 對比

晶圓拋光
探針臺
探針臺簡介：一、應(yīng)用:主要應(yīng)用于晶圓、芯片、器件、封裝等半導(dǎo)體制程測試環(huán)節(jié)。二、類型：分析直流、射頻、高壓、毫米波、太赫茲、硅光測量、芯片級測量、定制化等三、...
型號：所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:29:19 對比

探針臺半導(dǎo)體制程測試
精密研磨拋光機(jī)
TAP-400/600/450A/500精密研磨拋光機(jī)系列設(shè)備是兩軸高精密單面拋光設(shè)備，拋光頭可自轉(zhuǎn)、可擺動，可實現(xiàn)高壓力、高轉(zhuǎn)速拋光，可以單片拋光，也可以多片...
型號： TAP-400/6... 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:28:50 對比

晶圓拋光
霍爾效應(yīng)測試儀
霍爾效應(yīng)測試儀簡介：1.系統(tǒng)功能：用于測量半導(dǎo)體材料的電阻率/電導(dǎo)率、流動性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數(shù)、磁阻、垂直/水平阻力比的半導(dǎo)體高性能霍爾...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:14:49 對比

霍爾效應(yīng)測試儀行業(yè)專用儀器半導(dǎo)體高性能霍爾系統(tǒng)
智能型多功能橢偏儀
智能型多功能橢偏儀? （Smart SE）是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快，準(zhǔn)確。它可以表征幾埃到20µm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n, k）以及薄膜...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:06:59 對比

智能型多功能橢偏儀橢偏儀光學(xué)測量儀
高速高分辨顯微共焦拉曼光譜儀
高速高分辨顯微共焦拉曼光譜儀系統(tǒng)功能：快速獲得詳細(xì)的圖像和分析，非常適合于微觀和宏觀測量，提供*進(jìn)的二維和三維共聚焦成像能力。LabRAM Odyssey&t...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 15:00:01 對比

拉曼光譜儀光譜顯微共焦拉曼光譜
超景深顯微鏡
超景深顯微鏡概述：本套系統(tǒng)主要用于材料表面形貌的觀察；平面或三維測量?？刹捎?D觀測模式，對被測物形狀，粗糙度，表面積等進(jìn)行測量，可以做高度，寬度，橫截面，角度...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 14:56:06 對比

超景深顯微鏡表面測量粗糙度測量
工業(yè)顯微鏡
工業(yè)顯微鏡簡介：1. 支持通過光學(xué)顯微鏡或圖像測量儀（如Nikon NEXIV），對直徑為6英寸（150mm）和8英寸（200mm）的半導(dǎo)體晶圓的創(chuàng)新設(shè)計和材料...
型號： customize... 所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 14:50:46 對比

工業(yè)顯微鏡顯微鏡光學(xué)顯微鏡
立式高溫試驗箱
立式高溫試驗箱簡述：滿足各種產(chǎn)品、零部件及材料在高溫恒溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時間適應(yīng)性試驗要求。采用定值和程序兩種控制。定值控制可進(jìn)行自動開始結(jié)束設(shè)定，適合于...
型號： GPV系列所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 14:43:50 對比

立式高溫試驗箱高溫試驗箱高低溫試驗箱
高低溫(濕熱) 試驗箱
高低溫(濕熱) 試驗箱產(chǎn)品概述：1. 新型冷凍機(jī)的使用，實現(xiàn)了大范圍、高精度的溫濕度控制2. 40 模式可編程控制器、具有多種語言選擇、試驗數(shù)據(jù)U 盤存儲3....
型號： GP系列所在地：深圳市參考價：面議更新時間：2024/9/6 14:31:32 對比

高低溫(濕熱) 試驗箱試驗箱高低溫試驗箱

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